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TEM液體加熱樣品桿的使用可提高原位設備的安全性

更新時間:2021-03-29      點擊次數(shù):1783
  TEM液體加熱樣品桿可實現(xiàn)樣品的液氛環(huán)境埃米級高分辨成像和準確、均勻、安全控溫。液體流道采用惰性材料防腐設計,進液采用納流體微分控制方式,可以有效防止?jié)B漏,革命性提升原位設備安全性,保障實驗過程電鏡安全。對應電鏡原位觀察而言,可觀察范圍基本在微米級別,整體可觀察體積小于納升,因此過量液體對實驗毫無幫助,且引入巨大安全風險,我司的原位液氛納流控安全管理系統(tǒng)實現(xiàn)納升級別液體引入,高效準確的納流體微分控制液體的流速流量及通過樣品觀察區(qū)域,且實驗中引入總液體極其微量(小于25 μL),即使在芯片窗體薄膜破裂的情況下,也不會有大量液體滲漏,使得電鏡的安全得以保證,并且實驗不受影響,可持續(xù)進行。并且,液體流速可控(0~15 μL/s),分辨率可達5 nL/s。

  TEM液體加熱樣品桿的溫度控制準確: 四電極形成反饋控制系統(tǒng),控溫準;觀測區(qū)域全覆蓋,升溫快、溫度場穩(wěn)定且均勻,升溫過程樣品不漂移;對芯片進行自動校正和模擬出*優(yōu)的升溫曲線。

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